WKL-702 颗粒图像分析仪产品特点:
将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过数字摄像机将图像传输给电脑,通过颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理,具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。
1、图像多种处理方法:影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。
2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。
3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图。
技术参数:
仪器型号  | WKL-702  | 
测量范围  | 0.1~3000(微米)  | 
总放大倍数  | 8000倍  | 
Z大分辨率  | 0.1微米/像素  | 
重复性  | 误差≤±1%  | 
自动分割速度  | ≤1秒  | 
数字摄像机(CCD)  | 500万像素  | 
数据储存  | 电脑需另配(i5+8G内存+纯固态硬盘或双硬盘以上配置)  | 
通信接口  | USB  | 
操作系统  | Windows 98/XP/7/8/10/11系统均可  | 
电源  | AC220V ±10%,50 Hz, 200 W  | 
仪器尺寸  | 270mm×410mm×440mm  | 
仪器净重  | 15kg  |